艾博纳微纳米科技提供半导体晶圆与芯片微观表征方案，依托原子力显微镜、正置荧光显微镜、探针台、全自动二维转移平台等设备，完成晶圆表面形貌、粗糙度、微观缺陷、薄膜厚度、电极结构与电学特性检测，助力半导体工厂、芯片研发企业、微电子研究院优化制程工艺与器件研发效率。