MS-SHG 二次谐波光谱测试系统
二次谐波(SHG)的产生来自两个相同频率光子与非线性材料相互作用后合并成一个两倍频率的新光子,具有非中心对称性/无反对 称的化学结构才可以观测到SHG现象
MStarter 100 SHG二次谐波光谱测试系统将皮秒或者飞秒超快激光集成进入显微光路，通过100倍物镜聚焦于样品表面，激发样 品的微区二次谐波，可以对样品的晶格取向、晶界分布以及原子层数、原子层排列方式做无损测试。
二次谐波(SHG)的产生来自两个相同频率光子与非线性材料相互作用后合并成一个两倍频率的新光子,具有非中心对称性/无反对 称的化学结构才可以观测到SHG现象
MStarter 100 SHG二次谐波光谱测试系统将皮秒或者飞秒超快激光集成进入显微光路，通过100倍物镜聚焦于样品表面，激发样 品的微区二次谐波，可以对样品的晶格取向、晶界分布以及原子层数、原子层排列方式做无损测试。
Ø 可测试内容：
a) SHG强度与激光功率的关系：方便、快捷的测试不同激光功率下的SHG数据，用于探究SHG强度与激光功率之间的相互依赖 性。
b) SHG强度与偏振角度的关系（极化图）：搭载电动半波片旋转台，通过软件控制激光的偏振方向，自动测试不同角度下的 SHG强度并输出极化图。
c) 高分辨率快速扫描，生成SHG mapping：使用超低暗噪声（7 count/s）和高灵敏度的光子计数器配合压电平移台 可以提供 超过每秒500 点的高速扫描成像测试能力和10 倍以上灵敏度*。
d) 微纳材料显微尺寸测试：聚焦于样品表面的测试激光光斑小于1um，扫描点间距最小可达50nm
Ø 可应用领域：
a) 精准表征与定位材料晶界
b) 实现二维材料异质结的SHG信号表征
c) 研究二维材料的相结构与堆垛
d) 研究微纳米材料与结构的非线性光学特性
e) 研究铁电材料的极化域及晶体取向
f) 研究有机基微/纳米级低维结构
Ø 光路特点：
Ø 技术参数*：
Ø 二次谐波测试应用案例：
1. 判断晶格取向
2. 观察晶界
3. 判断二维材料层数
4. 分析SHG功率依赖性
作者研究了具有分支图案的均质堆叠多晶WSe2，SHG强度与激发功率之间的相关性，在相同激发波长1064nm下，测量了不同入射激光功率下SHG强度的变化范围为2.8~12.5 mW。正如预期的那样，SHG强度与激发功率之间有很强的相互依赖性。可见，SHG峰强度位于~532nm处，随激光功率的增加而显著增加(图7b)。提取SHG强度的峰值，并与相应的激发功率进行绘制。因此，这两个变量在双对数坐标系下表现出明显的线性关系。